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日本TORAY东丽氧气分析仪在半导体行业起到了什么效果?

更新时间:2025-12-11      浏览次数:37

日本TORAY(东丽)氧气分析仪在半导体行业的作用与效果

东丽(TORAY)的氧气分析仪(如 LC-8500系列LC-7500)在半导体制造中扮演着关键工艺监控角色,主要用于高纯度气体环境控制、工艺腔室氧含量监测及设备安全保护。以下是其核心应用及效果分析:


1. 核心作用

工艺气体纯度监测

  • 检测 高纯氮气(N₂)、氩气(Ar) 中的微量氧(O₂)杂质,确保 <1ppm的洁净度,防止晶圆氧化。

  • 典型案例:光刻机保护气体中的氧含量控制,避免透镜污染。

工艺腔室气氛控制

  • 实时监测 CVD(化学气相沉积)、蚀刻腔室 的氧浓度,防止工艺偏移。

  • 效果:提升薄膜沉积均匀性(如SiO₂、SiNₓ),减少缺陷率。

安全联锁保护

  • SiC外延生长金属沉积 工艺中,氧含量超标(>10ppm)触发紧急停机,防止爆炸风险。

节能减排

  • 优化惰性气体用量,通过精准控氧降低 30%高纯气体消耗(东丽实测数据)。


2. 技术优势(对比同类产品)

特性TORAY LC系列竞品A(日本理学)竞品B(美国AMI)
检测下限0.01ppm(电化学+氧化锆复合)0.1ppm0.05ppm
响应速度<5秒(T90)<10秒<3秒
耐腐蚀性全氟材质,耐HF/Cl₂仅耐弱酸石英传感器
集成兼容性支持SECS/GEM协议(半导体标准)需额外转换模块仅Modbus

3. 典型半导体应用场景

工艺环节监测点控制标准效果
晶圆制造外延生长反应腔O₂<0.5ppm减少晶格缺陷,提升良率5%+
封装测试塑封料固化环境O₂<50ppm防止封装气泡,降低分层风险
设备维护真空泵排气口O₂报警阈值100ppm预防油气混合爆炸

4. 实测效果(以某3D NAND工厂为例)

  • 问题:存储单元多层堆叠时,氧污染导致界面态密度升高。

  • 解决方案:在 ALD(原子层沉积) 设备集成TORAY LC-8500,实现:

    • 氧含量波动从±0.3ppm降至±0.05ppm

    • 芯片耐久性(P/E cycles)提升20%


5. 选型建议

  • 高精度需求:选 LC-8500(0.01ppm级,带温度补偿)

  • 腐蚀性环境:选 LC-7500HF(耐-氢-氟-酸-蚀刻气体)

  • 快速响应:选 LC-8800(激光光谱技术,1秒响应)


总结

东丽氧气分析仪通过 超高灵敏度检测半导体级可靠性,成为 28nm以下先-进制程 的标配设备,尤其擅长解决 High-K介质沉积EUV光刻 中的氧污染问题。其 SECS/GEM协议兼容性 可无缝对接Fab厂MES系统,是提升良率和安全性的关键工具。



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