Tokyo dylec 东京乐彩 EPC3783 扫描纳米颗粒粒径分布测量仪 产品介绍

Tokyo dylec 东京乐彩 EPC3783 扫描纳米颗粒粒径分布测量仪

Tokyo dylec 东京乐彩 EPC3783 扫描纳米颗粒粒径分布测量仪

扫描移动性颗粒分SMPS3938系列

由DMA和CPC自由选择组成的扫描纳米颗粒粒径分布测量仪器。

SMPS型号3938系列是一款自动化连续颗粒尺寸分布测量设备，能够连续测量1~1000纳米亚微米范围内的颗粒，分辨率高达每十年128个通道。 该仪器的一个主要特点是可以根据研究目的自由组合四种类型的DMA（静电分类器）和五种类型的CPC（凝聚粒子计数器）。 这使得颗粒尺寸信息更加详细且专门地构建。 此外，3082型号（DMA控制平台）和内置DMA的CPC分别可用作单色散粒子发生器和粒子计数测量设备。

特色

缩短测量时间：单粒粒径分布数据可在最短10秒内测量（用户可选择时间）

专用的AIM软件简化了作并自动保存测量数据。

ISO15900：2009年

颗粒尺寸范围广泛：可测量范围为1~1000纳米*1

浓度范围广泛：1~10至7片/毫升。

灵活的用户配置：根据用途选择流量，可以专注于特定的颗粒尺寸范围。 此外，每个组件设备还可作为单色散粒子发生器或块状浓度测量装置，具体取决于应用。

应用示例

基础气溶胶/颗粒行为研究与纳米技术相关的研发空气环境与气象研究室内环境调查/监测污染调查雾室等级环境监测滤网/空气净化器的性能测试燃烧颗粒/汽车废气研究关于粒子形成等方面的研究。材料合成喷雾、粉末及生成颗粒的表征吸入毒性研究

规格

颗粒尺寸范围请参见目录中的3938系列配置表

结局最多128个频道/十年

样品浓度范围1~107件装/毫升

测量时间10~300秒（用户设定，自动连续测量）

数据记录使用3082内置的记录器，无需电脑即可完成两周的测量

流样品流量：0.2~5 L/min（用户设定） 护套

流量：2~30 L/min（用户设定）

凝析液参见3938系列配置表

作环境样品条件

样品温度：10~40 °C

样品湿度：0~90%（非冷凝） 吸力

压力：75~125 kPa

中和剂单独会议

撞击器单级冲击器（三种切削直径）

热身时间（CPC）大约10分钟（环境温度20°C）

交通RS-232，USB线，以太网

电源请参阅CPC、WCPC和3082设备的规格*2

尺寸与重量请参阅CPC、WCPC和3082设备的规格*3

*请注意，规格可能会随时变更，恕不另行通知。

*1：取决于组合模型的规格。

电源（*2）

3750 CPC 200 W

3752/6/7CPC 33 5W

3789WCPC 200 W

3082 200 W

尺寸（H×W×D）及重量（*3）

3081A：61×8×8厘米/5.4公斤

，3085A：21×10×10厘米/2.2公斤

：3086,19×10×10厘米/2公斤

，3083,47×13×13厘米/8.5公斤

，3082×28×40厘米/14.2公斤

3750 27.5×18.3×29.9 厘米/6.6 公斤

3752 30.0×30.3×34.3 厘米/9.1 公斤

3756 30.1×28.1×35.4 厘米/9.1 公斤

3757 33.2×28.1×36.3 厘米/9.1 公斤

3789 31×18×40厘米/8公斤