SANKO三高 L型探针 NEO系列 产品介绍

SANKO三高 L型探针 NEO系列

SANKO三高 L型探针 NEO系列

SANKO三高公司的L型探针NEO系列，代表了在高精度、高稳定性测试领域的一项关键技术升级。该系列探针专为应对现代半导体封装、高密度印刷电路板（PCB）以及微小元器件测试的严苛挑战而设计。

其核心优势首先体现在L形的独特结构上。这种设计提供了优秀的刚性和空间适应性，能够轻松触及普通垂直探针难以接触的测试点（如元件侧面或狭窄间隙），同时有效防止在测试压力下发生弯曲或晃动，确保了接触位置的精确重复性。

NEO系列在性能上追求“三高"：

高耐久性：采用特殊的合金材料（如钨铼合金）制作针尖和针管，具有高的硬度和耐磨性，可承受数百万次的测试循环，大幅降低更换频率和维护成本。

高导电性：优化的内部结构和高品质镀层（如金镀层），确保了极低的接触电阻和稳定的电流传输，对于高频信号和微小电流测试至关重要，保证了测量数据的准确性。

高精度与一致性：精密的加工工艺保证了每根探针尺寸和弹力的高度一致，配合精准的行程设计，能实现稳定、可靠的接触，适用于晶圆测试、IC测试等对精度要求高的场合。

此外，该系列通常提供丰富的选项，包括不同针尖形状（如尖头、平头、冠状头）、多种直径和行程长度，以满足从传统PCB板测试到封装（如CSP、BGA）的多样化应用需求。

综上所述，SANKO三高L型探针NEO系列通过其创新的L形结构、优秀的材料科学和精密制造工艺，为电子制造业提供了高可靠、长寿命、高精度的测试解决方案，是提升测试效率与良率、保障产品质量的关键工具。