SANKO三高 EX-851 X射线荧光测厚仪 简介

SANKO三高 EX-851  X射线荧光测厚仪

SANKO三高 EX-851  X射线荧光测厚仪

X射线荧光测厚仪 EX-851

配备自动对焦，实现更平滑的测量

测量单元显示器显示及被测物体镀层粘附分布的可视化显示

Windows软件的采用增强®了报表创建功能

注意：使用该证书时，您需要通知相关劳动标准检查办公室。

雇主

X射线源  油浸式小型微聚焦X射线管

目标：钨管 电压：50kV/管，电流可变

照射方法 上述垂直辐照方法

探测器

比例计数管

可测量范围

原子序数 22~24： 0.02 ~ 约 20 微米 原子

序数 25 ~ 40： 0.02 ~ 约 30 微米 原子

序数 41 ~ 51： 0.02 ~ 约 70 微米 原子

序数 52 ~ 83： 0.01 ~ 约 10 微米

样本观察 CCD彩色相机（自动对焦）

表格大小  200×200

被测物体的最大高度  90毫米

尺寸  740（W）×530（D）×660（H）