SWT-NEO-F电磁膜厚计简介｜无复杂设置凭什么叫板实验室仪器？

SANKO三高 SWT-NEO-F 电磁式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEO-F 电磁式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEO-F 电磁式膜厚计，一款让不少质检工程师反复确认的型号：它不需要复杂的设置和漫长的预热，凭什么敢叫板那些实验室里的大型精密膜厚测量仪器？答案藏在SANKO三高对电磁感应测量技术的深度优化中。

实验室大型仪器——体积庞大、操作复杂、需要专业培训、无法携带到现场。SWT-NEO-F——通过零点/标准调整即可进行即时测量。采用电磁感应原理，专用于铁磁性金属基材上非磁性涂层的厚度测量。机身小巧便携，单手即可完成全部操作。

SWT-NEO-F测量范围0至2.50mm，覆盖从薄涂层到厚涂层的全量程需求。4档可切换显示分辨率，满足不同精度要求的测量场景。LCD数字显示带显示保持功能。探头采用单点恒压接触式设计，带V形切口，可稳定贴合平面、曲面等各种形状的工件。AA碱性电池供电，连续使用约25小时。SANKO三高 SWT-NEO-F——用即测即用的便捷设计，重新定义了铁基涂层测厚的现场效率标准。