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0-2000μm+20000点存储|SANKO三高 CTR-2000V 电磁膜厚计

更新时间:2026-08-03      浏览次数:16

SANKO三高 CTR-2000V 电磁膜厚计

SANKO三高 CTR-2000V 电磁膜厚计

SANKO三高 CTR-2000V 多功能电磁式膜厚计,用三组硬核数据重新定义现场涂层厚度测量的行业标准。

0至2000μm超宽测量范围——从极薄的粉末涂层到较厚的防腐衬里,单台仪器即可覆盖铁基材上几乎所有常见涂层的厚度测量需求。20,000点大容量内存——内置存储器可循环记录多达20,000个测量值,满足大批量检测与长期质量追溯的需求。±1μm高测量精度(均匀表面0至200μm范围内)——在薄涂层测量中达到微米级的精度,确保每一次测量结果都准确可靠。

更值得一提的是,CTR-2000V可注册多达10条校准曲线(针对不同基材特性),支持区块名称注册,方便对测量数据进行分类管理。内置热敏打印机,可实时输出测量数据的统计结果(测量次数、平均值、最大值、最小值、标准偏差)。配备带背光的大型LCD显示屏,即使在光线不足的现场也能清晰读数。数据不会说谎——CTR-2000V用每一组参数证明自己在涂层测厚领域的硬核实力。


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