告别接触式测厚盲区｜SANKO三高EX-731荧光X射线膜厚计

SANKO三高 EX-731 荧光X射线式膜厚计

SANKO三高 EX-731 荧光X射线式膜厚计

在PCB、电镀、电子、半导体等行业的镀层厚度检测中，最让人头疼的无外乎三个问题——接触式测厚有盲区：传统接触式测厚仪无法测量微细图案、复杂形状或柔软材料，测量精度受基材材质和表面状态影响大；多层膜厚分不清：无法同时分辨多层镀层中每一层的厚度；超薄镀层测不了：无法测量纳米级超薄镀层（<0.1μm）。SANKO三高 EX-731 荧光X射线式膜厚计，正是为解决这些痛点而生。

告别接触式测厚盲区——采用非接触式X射线荧光测量方式，不损伤样品。可测量微细图案、复杂形状、柔软材料；不受基材材质限制。告别多层膜厚分不清——支持单层、双层、三层膜厚同时测定，以及合金膜厚成分比同时测定、化学镍膜厚测定。告别超薄镀层测不了——可测量范围低至0.01μm，满足半导体、精密电子等行业对纳米级镀层的严苛要求。

告别操作繁琐——采用Windows®软件，增强了报告创建功能。配备CCD彩色相机用于样品观察。SANKO三高 EX-731——用非接触式X射线荧光技术，终结膜厚测量的种种盲区与烦恼。