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告别薄膜微孔漏检品质隐患|SANKO三高TO-5DP针孔探测器

更新时间:2026-08-20      浏览次数:66

SANKO三高 TO-5DP 直流式针孔探测器

SANKO三高 TO-5DP 直流式针孔探测器

在氟树脂薄膜、电子绝缘层、食品包装、医疗包装等薄膜产品的质量控制中,最让人头疼的无外乎三个问题——微孔漏检:肉眼无法发现的微小针孔可能导致产品泄漏、短路、污染等严重隐患;检测电压不稳:普通针孔检测仪电压波动大,检测结果不可靠;设备适应性差:检测电压固定、探头不可调,无法适应不同材质和场景。SANKO三高 TO-5DP直流高压放电型针孔探测器,正是为解决这些痛点而生。

告别微孔漏检——采用直流高压放电型检测方式,检测电压0.3至5kV连续可调。适用于检测厚度小于几百微米的相对较薄涂层(如氟树脂)中的针孔。当检测到针孔或缺陷时,通过灯光指示与蜂鸣器报警即时提醒。

告别检测电压不稳——直流高压输出,端子电压稳定。即使在长距离布线或复杂现场环境下,依然保持稳定的检测性能。

告别设备适应性差——配备ABS制可伸缩探头(手柄φ32mm,头部φ25mm,长度约540-870mm)。标配扁平刷电极(30×300mm,黄铜材质) 。可有效检测电子设备、精密设备等薄绝缘膜中的针孔和缺陷。SANKO三高 TO-5DP——用直流高压稳定输出与灵活可调设计,终结薄膜针孔检测的种种烦恼。


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