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告别服装鞋类异物漏检风险|SANKO三高ITX-S75DT X射线异物检测装置

更新时间:2026-09-09      浏览次数:21

SANKO三高 ITX-S75DT X射线异物检测装置

SANKO三高 ITX-S75DT X射线异物检测装置

在服装、鞋类、箱包等产品的异物检测中,最让人头疼的无外乎三个问题——异物漏检:断针、金属碎片、玻璃碎屑、陶瓷颗粒——这些肉眼无法发现的异物一旦混入成品,可能导致消费者受伤、产品召回、品牌声誉崩塌;超长产品检测困难:婚纱、长大衣等超长产品无法整件检测,分段检测必然存在盲区;操作复杂培训成本高:传统X射线设备操作繁琐,需要专业人员操作。SANKO三高 ITX-S75DT X射线异物检测装置,正是为解决这些痛点而生。

告别异物漏检——采用X射线成像技术,低成像能力可检测不锈钢球φ0.3mm、不锈钢丝φ0.2×2mm、玻璃球φ1.0mm、陶瓷球φ1.6mm。双向双屏成像,两个方向同时检测,更大程度降低遗漏异物的风险。

告别超长产品检测困难——最大检测长度2200mm。婚纱、长大衣等超长产品整件一次通过,无需折叠。

告别操作复杂——配备智能手机式触摸面板显示器。任何人都能轻松操作,无需专业培训。发现异物直接在屏幕上标注,所写图像以数据形式保存。

告别安全顾虑——X射线泄漏低于1μSv/h,无需许可证即可安全使用。配备联锁机制,进一步保障操作安全。SANKO三高 ITX-S75DT——用X射线成像与双向双屏技术,终结服装鞋类异物检测的种种烦恼。


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