3.00mm+±1μm｜SANKO三高SWT-NEO双模式膜厚计新品发布

#2026年新品发布会#

日期：2026年8月3日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SWT-NEO 双模式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEO 双模式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEO 电磁/涡流双模式涂层测厚仪新品发布，用三组硬核数据重新定义便携式膜厚测量的行业标准。

3.00mm超宽测量范围——铁基体测量范围覆盖0至3.00mm，有色金属基体覆盖0至2.50mm。无论是极薄的阳极氧化膜，还是较厚的防腐涂层和衬里，一台仪器即可覆盖全量程测量需求。±1μm高测量精度——在平面垂直测量条件下，0至100μm范围内精度高达±1μm或读数的±2%（取大值），101μm至量程上限精度为±2%。这一精度水平符合JIS K 5600及ISO 2808等国内外品质标准规范。0.1μm高显示分辨率——显示分辨率自动适配：0至999μm内为1μm，0至400μm内可切换至0.1μm，400至500μm区间为0.5μm，1.00mm以上切换至0.01mm。

更值得一提的是，SWT-NEO整机仅重约200g（含电池），纤薄机身配合倾斜支架设计，可立放于桌面操作，大幅减少手持长时间作业的疲劳感。数据不会说谎——SWT-NEO用每一组参数证明自己在便携式膜厚测量领域的硬核实力。