敢和显微镜横截面法比精度吗｜SANKO三高EX-851荧光X射线膜厚计

#2026年新品发布会#

日期：2026年8月7日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 EX-851 荧光X射线式膜厚计

SANKO三高 EX-851 荧光X射线式膜厚计

显微镜横截面法——镀层厚度检测的“老大哥"，几十年来被视为精度最高的方法。但它需要破坏样品、镶嵌研磨、耗时数小时、而且只能测一个点。SANKO三高 EX-851 荧光X射线式膜厚计，今天向它发起挑战：敢比精度吗？敢比效率吗？敢比无损吗？

比精度——EX-851可实现0.01μm级测量精度，不亚于显微镜横截面法，甚至对极薄镀层（0.1μm以下）的测量一致性更优。比效率——EX-851放上样品、按下开关、秒级出结果。无需样品制备、无需等待。比无损——EX-851不接触、不破坏、不损伤。成品直接上机测量。比信息量——EX-851可同时分析多层镀层成分和厚度，还可直观显示镀层附着力分布。横截面法？一次只能看一个点。

显微镜横截面法，你敢和EX-851比一下吗？SANKO三高 EX-851——敢和显微镜横截面法比精度。