SWT-NEOⅢ膜厚计新品简介｜40000点存储凭什么叫板实验室级设备？

#2026年新品发布会#

日期：2026年8月3日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SWT-NEOⅢ 双模式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEOⅢ 双模式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEOⅢ 双型膜厚计新品发布，一款让不少品控工程师反复确认的型号：一台手持式膜厚计，凭什么敢叫板那些体积庞大的实验室级涂层测厚设备？答案藏在SANKO三高对便携测量与专业功能的融合中。

普通手持膜厚计——存储容量小、校准曲线少、数据无法追溯、功能单一、无法满足专业品控需求。SWT-NEOⅢ——40000点大容量测量值存储器、100条校准曲线存储器、内置上下限设定和统计计算功能、USB数据传输和低功耗无线输出——这些原本只出现在实验室台式设备上的配置，全部集成在一台仅200g的手持仪器中。

SWT-NEOⅢ支持电磁式和涡电流式双模式测量，可搭配铁基探头（SFe）、非铁基探头（SNFe）以及两用探头（SFN-325）。图形液晶显示屏引导操作，倾斜支架设计让长时间测量更轻松，自动识别基材材质无需手动切换模式。SANKO三高 SWT-NEOⅢ——用手持设备的便携性，重新定义了现场涂层厚度测量的专业标准。