告别基材误判测厚不准｜SANKO三高SWT-NEO-FN双模式膜厚计新品发布

#2026年新品发布会#

日期：2026年8月3日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SWT-NEO-FN 双模式膜厚计

SANKO三高 SWT-NEO-FN 双模式膜厚计

在涂层厚度现场检测中，最让人头疼的无外乎三个问题——基材误判：面对铁基和非铁基混合的工件，手动切换模式容易出错，导致测量结果无效；操作繁琐：不同基材需要更换不同探头或手动调整设置，效率低下；精度不足：普通设备在薄涂层或粗糙表面上的测量结果波动大，无法满足质量控制要求。SANKO三高 SWT-NEO-FN 双型涂层测厚仪新品发布，正是为解决这些痛点而生。

告别基材误判——SWT-NEO-FN搭载双模式自动识别功能，仪器能自动识别基材是铁磁性还是非铁磁性。无论是钢铁、铸铁，还是铝、铜、不锈钢，拿起即测，无需任何手动切换。告别操作繁琐——通过零点/标准调整即可进行即时测量。LCD数字显示清晰直观。机身仅72×30×156mm、重约200g，单手即可完成全部操作。告别精度不足——均匀表面0至100μm范围内精度高达±1μm。显示分辨率可在1μm、0.1μm、0.5μm及0.01mm之间灵活切换。支持零点校准和多点校准。

告别数据孤岛——还可选配具有记忆和统计功能的高阶型号SWT-NEO II，满足更严格的质量追溯要求。SANKO三高 SWT-NEO-FN——用双模式自动识别与高精度测量技术，终结涂层测厚的种种烦恼。